Analizator grubości powłok X-Strata920

Analizator grubości powłok X-Strata920

X-Strata920 to spektrometr ED-XRF dedykowany do pomiaru grubości powłok metalicznych. W zależności od aplikacji może być on wyposażony w detektor SDD lub licznik proporcjonalny.

Opis

Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). X-Strata920 jest nowoczesnym, wydajnym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP) lub na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL). Spektrometr X-Strata920 wyposażony został w ekonomiczny detektor proporcjonalny, zapewniający szybką odpowiedź pomiarową przy racjonalnej rozdzielczości. W razie potrzeby np. w przypadku pomiarów powłok o grubości poniżej 50 nm, spektrometr można wyposażyć w bardziej czuły detektor półprzewodnikowy SDD.

 Warto zaznaczyć, że urządzenie wyposażone zostało w przestronną komorę pomiarową pozwalającą na pomiar większych próbek. W zależności od potrzeb próbki można umieszczać na nieruchomym lub zmotoryzowanym stoliku, w specjalnych dołkach lub szerokiej podstawie. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 4 powłok metalicznych na jednej próbce. Główne zastosowania Spektrometru X-Strata920 to badanie płyt elektronicznych, pokryć styków elektronicznych, odporności na korozję, odporności na zużycie, czy pokryć dekoracyjnych.

Parametry techniczne

Zakres analityczny Ti – U (Al-U dla SDD)
Lampa RTG 50kV, 1mA
Detektor licznik proporcjonalny, chłodzony elektrycznie lub półprzewodnikowy (SDD)
Podgląd próbki kolorowa kamera CCD
Komora pomiarowa 560 mm x 610 mm x 330 mm (standardowy stolik)
Kolimatory okrągłe lub prostokątne, maks. 6; najmniejszy kolimator 0,01 x 0,25 mm
Oprogramowanie pomiar grubości powłok
Waga ok. 100 kg

Powiązane produkty