Analizator X-Supreme8000 to kompaktowy spektrometr ED-XRF zaprojektowany przede wszystkim do kontroli jakości produkcji. Dzięki wytrzymałej konstrukcji, przyjaznemu interfejsowi użytkownika i szerokim możliwościom pomiarowym urządzenie może być wykorzystane do bardziej wymagających aplikacji.
Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). Spektrometry serii X-Supreme sprawdziły się na rynku ze względu na wyjątkową niezawodność oraz prostotę użytkowania. X-Supreme8000 jest przeznaczony do wykonywania dużej liczby pomiarów zawartości pierwiastków w trybie pracy ciągłej. Możliwe jest także wykonanie analiz jakościowych jak i pół-ilościowych. Spektrometr X-Supreme8000 okresowo i automatycznie przeprowadza wewnętrzną diagnostykę, aby zapewnić poprawność i stabilność działania. Urządzenie zostało zintegrowane razem z komputerem sterującym do niewielkich rozmiarów, kontrola odbywa się za pomocą wbudowanej klawiatury, opcjonalnie urządzenie można wyposażyć w ekran dotykowy. W celu rozszerzenia zakresu pomiarowego o pierwiastki lekkie, istnieje możliwość przedmuchu urządzenia helem.
X-Supreme8000 został dostosowany do pracy w trudnych warunkach. Instrument, w tym klawiatura, został przetestowany pod kątem odporności na uszkodzenia wynikające z kontaktem z chemikaliami i rozpuszczalnikami. X-Supreme8000 zawiera funkcje zaprojektowane w celu ochrony elementów analitycznych przed uszkodzeniem w wyniku rozlania próbki. Przy pojemnikach na próbki znajduje się osłona zbierająca ewentualne wycieki. Osłona jest wielokrotnego użytku i można ją łatwo wymontować bez użycia narzędzi. Istotną cechą oferowanego urządzenia jest detektor o wysokiej rozdzielczości, który poszerza możliwości pomiarowe oraz zapewnia krótszy czasu pomiaru nawet dla złożonych aplikacji. Próbki umieszcza się w podajniku pozwalającym zmierzyć do 10 różnych materiałów w jednej sekwencji pomiarowej. Opcjonalnie dostępna jest duża taca podajnika z obręczą 51.5 mm do próbek cementu lub 47mm do próbek filtrów. System oferuje możliwość analizy próbek stałych (proszków), ciekłych oraz w formie past.
Zakres analityczny | Na – U |
Detektor | chłodzony elektrycznie półprzewodnikowy (SDD) |
Podgląd próbki | brak |
Liczba próbek na wbudowanym podajniku | 10 |
Kolimatory | układ światłowodowy o średnicy wiązki 30 µm |
Oprogramowanie | pomiar zawartości pierwiastków, analiza jakościowa |
Necessary cookies are absolutely essential for the website to function properly. This category only includes cookies that ensures basic functionalities and security features of the website. These cookies do not store any personal information.
Any cookies that may not be particularly necessary for the website to function and is used specifically to collect user personal data via analytics, ads, other embedded contents are termed as non-necessary cookies. It is mandatory to procure user consent prior to running these cookies on your website.