Analizator XRF X-Supreme8000

Analizator XRF
X-Supreme8000

Analizator X-Supreme8000 to kompaktowy spektrometr ED-XRF zaprojektowany przede wszystkim do kontroli jakości produkcji. Dzięki wytrzymałej konstrukcji, przyjaznemu interfejsowi użytkownika i szerokim możliwościom pomiarowym urządzenie może być wykorzystane do bardziej wymagających aplikacji.

Opis

Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). Spektrometry serii X-Supreme sprawdziły się na rynku ze względu na wyjątkową niezawodność oraz prostotę użytkowania. X-Supreme8000 jest przeznaczony do wykonywania dużej liczby pomiarów zawartości pierwiastków w trybie pracy ciągłej. Możliwe jest także wykonanie analiz jakościowych jak i pół-ilościowych. Spektrometr X-Supreme8000 okresowo i automatycznie przeprowadza wewnętrzną diagnostykę, aby zapewnić poprawność i stabilność działania. Urządzenie zostało zintegrowane razem z komputerem sterującym do niewielkich rozmiarów, kontrola odbywa się za pomocą wbudowanej klawiatury, opcjonalnie urządzenie można wyposażyć w ekran dotykowy. W celu rozszerzenia zakresu pomiarowego o pierwiastki lekkie, istnieje możliwość przedmuchu urządzenia helem.

X-Supreme8000 został dostosowany do pracy w trudnych warunkach. Instrument, w tym klawiatura, został przetestowany pod kątem odporności na uszkodzenia wynikające z kontaktem z chemikaliami i rozpuszczalnikami. X-Supreme8000 zawiera funkcje zaprojektowane w celu ochrony elementów analitycznych przed uszkodzeniem w wyniku rozlania próbki. Przy pojemnikach na próbki znajduje się osłona zbierająca ewentualne wycieki. Osłona jest wielokrotnego użytku i można ją łatwo wymontować bez użycia narzędzi. Istotną cechą oferowanego urządzenia jest detektor o wysokiej rozdzielczości, który poszerza możliwości pomiarowe oraz zapewnia krótszy czasu pomiaru nawet dla złożonych aplikacji. Próbki umieszcza się w podajniku pozwalającym zmierzyć do 10 różnych materiałów w jednej sekwencji pomiarowej. Opcjonalnie dostępna jest duża taca podajnika z obręczą 51.5 mm do próbek cementu lub 47mm do próbek filtrów. System oferuje możliwość analizy próbek stałych (proszków), ciekłych oraz w formie past.

Parametry techniczne

Zakres analityczny Na – U
Detektor chłodzony elektrycznie półprzewodnikowy (SDD)
Podgląd próbki brak
Liczba próbek na wbudowanym podajniku 10
Kolimatory układ światłowodowy o średnicy wiązki 30 µm
Oprogramowanie pomiar zawartości pierwiastków, analiza jakościowa

Powiązane produkty