Poza standardowymi funkcjami model EA6000VX posiada zdolność mikroanalizy i mapowania, co czyni go niezrównanym narzędziem w przypadku punktowych zanieczyszczeń.
Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). Analizator XRF o wysokiej czułości EA6000VX jest w stanie dokonywać pomiarów niebezpiecznych substancji na całych powierzchniach, a także mierzyć punkty mikroskopowe w określonym obszarze. Zadania te nie są możliwe przy użyciu konwencjonalnych instrumentów ED-XRF. Dzięki swym szerokim możliwościom spektrometr zadowoli nawet najbardziej wymagających analityków. Spektrometr rentgenowski o wysokiej czułości EA6000VX charakteryzuje szeroki zakres aplikacji, przede wszystkim analiza mikrocząstek, kontrolę zgodności z ROHS oraz pomiary grubości powłok. System został wyposażony w najnowocześniejszy, półprzewodnikowy, chłodzony elektrycznie detektor SDD Vortex zapewniający bardzo dobrą energetyczną zdolność rozdzielczą przy dużej częstości zliczeń.
Używanie przyrządu w połączeniu z towarzyszącym oprogramowaniem sterującym znacznie skraca czas pomiaru. Dzięki temu z wykorzystaniem urządzenia można osiągnąć bardzo niskie granice wykrywalności jak na tę technikę pomiarową. Co jest istotne z punktu widzenia testów pod kątem dyrektywy ROHS oraz mapowania próbek urządzenie cechuje się dużą komorą pomiarową. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowano system kamer umożliwiający obserwację próbki oraz daje możliwość tworzenia map analizowanych obiektów (maks. wymiary 250x200mm). Optyka spektrometru jest dokładnie wyjustowana, co daje możliwość dokładnej mikroanalizy oraz pomiaru grubości i składu warstw (np.: Au/Ni/Cu w obszarze 0.2 mm2 z wysoką dokładnością w ok .10 sekund). System automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym oraz oferuje możliwość analizy próbek stałych, sypkich oraz ciekłych.
Opcjonalnie spektrometr można doposażyć w przedmuch helem – co rozszerza możliwość analizy do lekkich pierwiastków.
Zakres analityczny | Mg – U (Na – U z opcją płukania He) |
Lampa RTG | 50kV, 1mA |
Detektor | półprzewodnikowy SDD, chłodzony elektrycznie |
Podgląd próbki | 2 kolorowe kamery CCD |
Komora pomiarowa | 580 mm x 450 mm x 150 mm |
Kolimatory | okrągłe: 0,2 mm; 0,5 mm; 1,2 mm; 3 mm |
Oprogramowanie | pomiar ilościowy i jakościowy, pomiar grubości powłok |
Dodatkowe wyposażenie | zmotoryzowany stolik (tworzenie map), płukanie He (pomiar lekkich pierwiastków) |
Necessary cookies are absolutely essential for the website to function properly. This category only includes cookies that ensures basic functionalities and security features of the website. These cookies do not store any personal information.
Any cookies that may not be particularly necessary for the website to function and is used specifically to collect user personal data via analytics, ads, other embedded contents are termed as non-necessary cookies. It is mandatory to procure user consent prior to running these cookies on your website.