Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). Analizator XRF o wysokiej czułości EA6000VX jest w stanie dokonywać pomiarów niebezpiecznych substancji na całych powierzchniach, a także mierzyć punkty mikroskopowe w określonym obszarze. Zadania te nie są możliwe przy użyciu konwencjonalnych instrumentów ED-XRF. Dzięki swym szerokim możliwościom spektrometr zadowoli nawet najbardziej wymagających analityków. Spektrometr rentgenowski o wysokiej czułości EA6000VX charakteryzuje szeroki zakres aplikacji, przede wszystkim analiza mikrocząstek, kontrolę zgodności z ROHS oraz pomiary grubości powłok. System został wyposażony w najnowocześniejszy, półprzewodnikowy, chłodzony elektrycznie detektor SDD Vortex zapewniający bardzo dobrą energetyczną zdolność rozdzielczą przy dużej częstości zliczeń.

Używanie przyrządu w połączeniu z towarzyszącym oprogramowaniem sterującym znacznie skraca czas pomiaru. Dzięki temu z wykorzystaniem urządzenia można osiągnąć bardzo niskie granice wykrywalności jak na tę technikę pomiarową. Co jest istotne z punktu widzenia testów pod kątem dyrektywy ROHS oraz mapowania próbek urządzenie cechuje się dużą komorą pomiarową. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowano system kamer umożliwiający obserwację próbki oraz daje możliwość tworzenia map analizowanych obiektów (maks. wymiary 250x200mm). Optyka spektrometru jest dokładnie wyjustowana, co daje możliwość dokładnej mikroanalizy oraz pomiaru grubości i składu warstw (np.: Au/Ni/Cu w obszarze 0.2 mm2 z wysoką dokładnością w ok .10 sekund). System automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym oraz oferuje możliwość analizy próbek stałych, sypkich oraz ciekłych.
Opcjonalnie spektrometr można doposażyć w przedmuch helem – co rozszerza możliwość analizy do lekkich pierwiastków.