Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). X-Strata920 jest nowoczesnym, wydajnym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP) lub na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL). Spektrometr X-Strata920 wyposażony został w ekonomiczny detektor proporcjonalny, zapewniający szybką odpowiedź pomiarową przy racjonalnej rozdzielczości. W razie potrzeby np. w przypadku pomiarów powłok o grubości poniżej 50 nm, spektrometr można wyposażyć w bardziej czuły detektor półprzewodnikowy SDD.

 Warto zaznaczyć, że urządzenie wyposażone zostało w przestronną komorę pomiarową pozwalającą na pomiar większych próbek. W zależności od potrzeb próbki można umieszczać na nieruchomym lub zmotoryzowanym stoliku, w specjalnych dołkach lub szerokiej podstawie. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 4 powłok metalicznych na jednej próbce. Główne zastosowania Spektrometru X-Strata920 to badanie płyt elektronicznych, pokryć styków elektronicznych, odporności na korozję, odporności na zużycie, czy pokryć dekoracyjnych.