FT110A to spektrometr ED-XRF dedykowany do pomiaru grubości powłok metalicznych, charakteryzujący się wysoką przepustowością i łatwością obsługi.
Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). FT110A jest nowoczesnym, wydajnym i ekonomicznym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP), na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL) lub metody mieszanej (FP + CAL). Nie ma jednak przeszkód by urządzenie stosować też do pomiarów stężenia metali w cieczach czy analizy jakościowej. Dużymi zaletami urządzenia jest łatwa obsługa, szybki pomiar oraz wysoka wytrzymałość. Z tego względu FT110A często stosowany jest do kontroli jakości w produkcji, gdzie istotna jest szybka i pewna informacja zwrotna.
Spektrometr FT110A wyposażony został w ekonomiczny detektor proporcjonalny, zapewniający szybką odpowiedź pomiarową przy racjonalnej rozdzielczości. Warto zaznaczyć, że urządzenie wyposażone zostało w dużą komorę pomiarową pozwalającą na pomiar próbek o większych gabarytach. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu, a system automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym. W najczęściej wybieranej konfiguracji urządzenie wyposażone jest w sterowany joystickiem ruchomy stolik pomiarowy, co pozwala na szybkie i precyzyjne ustawienie próbki we wiązce pomiarowej. Aby jeszcze dodatkowo ułatwić i przyspieszyć pomiary urządzenie można doposażyć w unikalny czujnik odległości, który umożliwia automatyczne zbliżenie głowicy pomiarowej do próbki oraz wyostrzenie obrazu. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 5 powłok metalicznych na jednej próbce. Mierzone warstwy mogą składać się z nawet z 10 różnych pierwiastków. Warto zaznaczyć, że urządzenia serii FT produkowane są od 1978 roku.
Zakres analityczny | Ti – Bi |
Lampa RTG | 50kV, 1mA |
Detektor | licznik proporcjonalny, chłodzony elektrycznie |
Podgląd próbki | kolorowa kamera CCD |
Komora pomiarowa | 500 mm x 400 mm x 150 mm |
Kolimatory | okrągłe: 1 mm, 2 mm oraz dwa prostokątne, maks 4 |
Oprogramowanie | pomiar grubości powłok, pomiar ilościowy i jakościowy |
Waga | ok. 100 kg |
Necessary cookies are absolutely essential for the website to function properly. This category only includes cookies that ensures basic functionalities and security features of the website. These cookies do not store any personal information.
Any cookies that may not be particularly necessary for the website to function and is used specifically to collect user personal data via analytics, ads, other embedded contents are termed as non-necessary cookies. It is mandatory to procure user consent prior to running these cookies on your website.