Analizator grubości powłok FT160

Analizator grubości powłok FT160

FT160 to wysoce precyzyjny spektrometr ED-XRF dedykowany do pomiaru grubości powłok metalicznych, zwłaszcza w przemyśle elektronicznym.

Opis

Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). FT160 jest nowoczesnym, wydajnym i zaawansowanym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych z wysoką precyzją i dla małych obiektów. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP), na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL) lub metody mieszanej (FP + CAL). Nie ma jednak przeszkód by urządzenie stosować też do pomiarów stężenia metali w cieczach czy analizy jakościowej. Wyposażony w polikapilarną optykę ogniskowania rentgenowskiego i półprzewodnikowy detektor, FT160 umożliwia osiągnięcie bardzo wysokiej dokładności i przepustowości w pomiarach grubości warstwy na poziomie ultra -mikroskopowym. Dzięki bardzo dokładnemu ogniskowaniu urządzenie umożliwia dokonanie pomiaru z obszaru o średnicy zaledwie 30 µm.

 W standardowej konfiguracji, że urządzenie wyposażone zostało w dużą komorę pomiarową dogodną do analizy dużych płaskich elementów, takich jak np. płyty elektroniczne. W zależności od potrzeb możliwe jest doposażenie w komory węższe i wyższe. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu, a system automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym. W najczęściej wybieranej konfiguracji urządzenie wyposażone jest w sterowany joystickiem ruchomy stolik pomiarowy, co pozwala na szybkie i precyzyjne ustawienie próbki we wiązce pomiarowej. Spektrometr może być wyposażony w aż 5 filtrów w celu dobrania najlepszych parametrów pomiarowych. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 5 powłok metalicznych na jednej próbce. Mierzone warstwy mogą składać się z nawet z 10 różnych pierwiastków. Warto zaznaczyć, że urządzenia serii FT produkowane są od 1978 roku.

Parametry techniczne

Zakres analityczny Al – U
Lampa RTG 45 kV (opcjonalna lampa wysokoenergetyczna)
Detektor półprzewodnikowy (SDD), chłodzony elektronicznie
Podgląd próbki kolorowa kamera CCD
Komora pomiarowa 600 mm x 600 mm x 200 mm (model FT160L)
Kolimatory układ światłowodowy o średnicy wiązki 30 µm
Oprogramowanie pomiar grubości powłok, pomiar ilościowy i jakościowy

Powiązane produkty