FT160 to wysoce precyzyjny spektrometr ED-XRF dedykowany do pomiaru grubości powłok metalicznych, zwłaszcza w przemyśle elektronicznym.
Hitachi High-Tech Science Corporation jest znanym i cenionym producentem spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej. Urządzenia są wykorzystywane w wielu gałęziach nauki oraz przemysłu (w tym przez wszystkich wiodących japońskich oraz koreańskich producentów sprzętu elektronicznego oraz samochodów). FT160 jest nowoczesnym, wydajnym i zaawansowanym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych z wysoką precyzją i dla małych obiektów. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP), na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL) lub metody mieszanej (FP + CAL). Nie ma jednak przeszkód by urządzenie stosować też do pomiarów stężenia metali w cieczach czy analizy jakościowej. Wyposażony w polikapilarną optykę ogniskowania rentgenowskiego i półprzewodnikowy detektor, FT160 umożliwia osiągnięcie bardzo wysokiej dokładności i przepustowości w pomiarach grubości warstwy na poziomie ultra -mikroskopowym. Dzięki bardzo dokładnemu ogniskowaniu urządzenie umożliwia dokonanie pomiaru z obszaru o średnicy zaledwie 30 µm.
W standardowej konfiguracji, że urządzenie wyposażone zostało w dużą komorę pomiarową dogodną do analizy dużych płaskich elementów, takich jak np. płyty elektroniczne. W zależności od potrzeb możliwe jest doposażenie w komory węższe i wyższe. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu, a system automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym. W najczęściej wybieranej konfiguracji urządzenie wyposażone jest w sterowany joystickiem ruchomy stolik pomiarowy, co pozwala na szybkie i precyzyjne ustawienie próbki we wiązce pomiarowej. Spektrometr może być wyposażony w aż 5 filtrów w celu dobrania najlepszych parametrów pomiarowych. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 5 powłok metalicznych na jednej próbce. Mierzone warstwy mogą składać się z nawet z 10 różnych pierwiastków. Warto zaznaczyć, że urządzenia serii FT produkowane są od 1978 roku.
Zakres analityczny | Al – U |
Lampa RTG | 45 kV (opcjonalna lampa wysokoenergetyczna) |
Detektor | półprzewodnikowy (SDD), chłodzony elektronicznie |
Podgląd próbki | kolorowa kamera CCD |
Komora pomiarowa | 600 mm x 600 mm x 200 mm (model FT160L) |
Kolimatory | układ światłowodowy o średnicy wiązki 30 µm |
Oprogramowanie | pomiar grubości powłok, pomiar ilościowy i jakościowy |
Necessary cookies are absolutely essential for the website to function properly. This category only includes cookies that ensures basic functionalities and security features of the website. These cookies do not store any personal information.
Any cookies that may not be particularly necessary for the website to function and is used specifically to collect user personal data via analytics, ads, other embedded contents are termed as non-necessary cookies. It is mandatory to procure user consent prior to running these cookies on your website.