Velox 3100 to spektrofotometr UV-Vis z 1024-kanałową matrycą fotodiodową PDA, rozdzielczością spektralną 1 nm oraz układem lamp deuterowej i wolframowej. Urządzenie umożliwia równoczesną rejestrację pełnego widma w zakresie 190–1100 nm w czasie około 1 sekundy.

Velox 3100 wykorzystuje 1024-kanałowy detektor PDA współpracujący z monolitycznym polichromatorem. Układ umożliwia jednoczesną rejestrację całego zakresu spektralnego 190–1100 nm bez mechanicznego skanowania kolejnych długości fali.
Pełne widmo może zostać zarejestrowane w czasie około 1 sekundy. Ma to znaczenie w pomiarach, w których istotne jest śledzenie szybkich zmian absorbancji oraz analiza przebiegu reakcji w czasie.
Źródłem promieniowania jest zespół lamp deuterowej i wolframowej, zapewniający pracę w zakresie UV oraz światła widzialnego i bliskiej podczerwieni. Poziom szumu fotometrycznego wynosi poniżej 0,0001 AU.
Brak ruchomych elementów w układzie optycznym sprzyja zachowaniu stabilności pomiaru i ogranicza wpływ zużycia elementów mechanicznych na pracę urządzenia.
Matryca fotodiodowa umożliwia równoczesną rejestrację pełnego widma oraz uzyskanie rozdzielczości spektralnej 1 nm.
Szybka akwizycja umożliwia wykonywanie pomiarów widmowych oraz obserwację zmian zachodzących podczas badań kinetycznych.
Zespół lamp deuterowej i wolframowej zapewnia stabilne źródło promieniowania w zakresie 190–1100 nm.
Szum fotometryczny poniżej 0,0001 AU pozwala prowadzić pomiary również przy niewielkich wartościach absorbancji.
Velox 3100 został zaprojektowany z myślą o laboratoriach badawczo-rozwojowych oraz kontroli jakości, w których istotne są szybka rejestracja widma, niski poziom szumów i rozdzielczość spektralna 1 nm.
Velox 3100 wykorzystuje monolityczny polichromator współpracujący z matrycą PDA. Rejestracja widma nie wymaga mechanicznego przemieszczania siatki dyfrakcyjnej ani kolejnego ustawiania poszczególnych długości fali.
Takie rozwiązanie pozwala rejestrować cały zakres spektralny w jednym krótkim pomiarze i ogranicza liczbę elementów mechanicznych odpowiedzialnych za pracę układu optycznego.
Powtarzalność długości fali podawana dla urządzenia wynosi poniżej 0,02 nm.
Rozdzielczość spektralna 1 nm pozwala rozdzielać blisko położone pasma absorpcyjne w zakresie 190–1100 nm.
Producent podaje wartość < 0,03% T przy 340 nm dla NaNO2 oraz < 0,05% T przy 220 nm dla NaI.
Geometria komory pomiarowej umożliwia stosowanie uchwytów i akcesoriów dostosowanych do wysokości wiązki 15 mm.
Wysokość wiązki optycznej w Velox 3100 wynosi 15 mm. W standardowym wyposażeniu znajduje się uchwyt do kuwet o drodze optycznej 10 mm.
Konstrukcja komory pomiarowej umożliwia rozbudowę stanowiska o dodatkowe akcesoria laboratoryjne.
W zależności od konfiguracji mogą być stosowane m.in. uchwyty termostatowane, automatyczne podajniki próbek oraz kuwety przepływowe.
Dobór wyposażenia powinien być uzależniony od rodzaju wykonywanych pomiarów oraz organizacji pracy laboratorium.
Velox 3100 współpracuje z oprogramowaniem LuxPro Basic przeznaczonym do sterowania pomiarem oraz analizy danych spektrofotometrycznych.
Oprogramowanie umożliwia również wykonywanie obliczeń oraz pomiarów grubości warstw. Zakres wykorzystywanych funkcji zależy od rodzaju prowadzonej analizy i konfiguracji stanowiska.
| Układ optyczny | |
|---|---|
| Typ urządzenia | Spektrofotometr UV-Vis z 1024-kanałową matrycą fotodiodową PDA |
| Zakres spektralny | 190–1100 nm |
| Rozdzielczość spektralna | 1 nm |
| Powtarzalność długości fali | < 0,02 nm |
| Źródło światła | Lampa deuterowa dla zakresu UV oraz lampa wolframowa dla zakresu Vis-NIR |
| Układ optyczny | Monolityczny polichromator bez ruchomych elementów |
| Parametry fotometryczne | |
| Zakres fotometryczny | -3,0 do 3,0 AU |
| Dokładność fotometryczna | ±0,005 AU (NIST 930e) |
| Szum fotometryczny | < 0,0001 AU |
| Światło rozproszone | < 0,03% T przy 340 nm (NaNO2); < 0,05% T przy 220 nm (NaI) |
| Komora pomiarowa | |
| Wysokość wiązki | 15 mm |
| Uchwyt standardowy | Uchwyt do kuwet 10 mm |
| Możliwe wyposażenie | uchwyty termostatowane, automatyczne podajniki, kuwety przepływowe |
| Wymiary i oprogramowanie | |
| Wymiary | 541 × 450 × 232 mm |
| Masa | 16,5 kg |
| Oprogramowanie | LuxPro Basic |
| Podstawowe funkcje oprogramowania | skanowanie widma, analiza kinetyczna, analiza ilościowa, wyszukiwanie pików i minimów, obliczenia, pomiary grubości warstw |
Matryca PDA umożliwia równoczesną rejestrację pełnego widma w zakresie 190–1100 nm. Velox 3100 nie musi mechanicznie skanować kolejnych długości fali, dzięki czemu pełne widmo może zostać zarejestrowane w czasie około 1 sekundy.
Rozdzielczość spektralna urządzenia wynosi 1 nm. Powtarzalność długości fali podawana przez producenta wynosi poniżej 0,02 nm.
Urządzenie wykorzystuje lampę deuterową dla zakresu UV oraz lampę wolframową dla zakresu światła widzialnego i bliskiej podczerwieni. Układ pracuje w zakresie 190–1100 nm.
Tak. Możliwość rejestracji pełnego widma w czasie około 1 sekundy pozwala śledzić zmiany widmowe zachodzące podczas reakcji chemicznych i innych pomiarów wykonywanych w funkcji czasu.
Wysokość wiązki wynosi 15 mm, a w standardzie dostępny jest uchwyt do kuwet 10 mm. Zgodnie z materiałami producenta komora umożliwia również zastosowanie uchwytów termostatowanych, automatycznych podajników oraz kuwet przepływowych.
Oprogramowanie umożliwia m.in. skanowanie widm, analizę kinetyczną i ilościową, wyszukiwanie pików i minimów widmowych oraz wykonywanie pomiarów grubości warstw.
SCINCO jest producentem aparatury analitycznej z Korei Południowej. Oferta firmy obejmuje m.in. spektrofotometry UV-Vis, spektrofluorymetry oraz spektrometry ICP-OES i ICP-MS.
W ofercie dostępne są również inne systemy SCINCO przeznaczone do spektroskopii optycznej i analizy pierwiastkowej.

Spektrofotometr UV-Vis z 512-kanałową matrycą PDA i impulsową lampą ksenonową.

Dwuwiązkowy spektrofotometr UV-Vis z regulowaną szczeliną spektralną.

Spektrofluorymetr do badań próbek ciekłych, stałych i proszkowych.

Spektrometr emisyjny ICP-OES z obserwacją osiową i radialną plazmy.

Kwadrupolowy spektrometr mas ICP-MS do analiz wielopierwiastkowych na poziomach śladowych i ultraśladowych.
Skontaktuj się z zespołem ANALITYK, aby omówić wymagany zakres spektralny, rozdzielczość, sposób prowadzenia pomiarów oraz konfigurację odpowiednią do planowanych analiz.